Structural and thermal stability of BIMEVOX oxygen semiconductors | Sciact

Structural and thermal stability of BIMEVOX oxygen semiconductors Научная публикация

Журнал

Russian Journal of Electrochemistry
ISSN: 1023-1935 , E-ISSN: 1608-3342

Вых. Данные

Год: 2011, Том: 47, Номер: 4, Страницы: 448-452 Страниц : DOI: 10.1134/s1023193511040100

Авторы

Morozova M. V. ¹ , Buyanova E. S. ¹ , Petrova S. A. ² , Khisametdinova V. V. ¹ , Emel’yanova Yu. V. ¹ , Shatokhina A. N. ¹ , Zhukovskii V. M. ¹

Организации

1	Ural State University#TAB#
2	Russian Academy of Sciences

Morozova M.V. , Buyanova E.S. , Petrova S.A. , Khisametdinova V.V. , Emel’yanova Y.V. , Shatokhina A.N. , Zhukovskii V.M.
Structural and thermal stability of BIMEVOX oxygen semiconductors
Russian Journal of Electrochemistry. 2011. V.47. N4. P.448-452. DOI: 10.1134/s1023193511040100 Scopus OpenAlex

Scopus:	2-s2.0-79958134902
OpenAlex:	W2028755274

БД	Цитирований
OpenAlex	4
Scopus	1