Sciact
  • EN
  • RU

Electronic state of ruthenium deposited onto oxide supports: An XPS study taking into account the final state effects Научная публикация

Журнал Applied Surface Science
ISSN: 0169-4332
Вых. Данные Год: 2011, Том: 258, Номер: 4, Страницы: 1541-1550 Страниц : DOI: 10.1016/j.apsusc.2011.09.127
Авторы Larichev Yurii V. 1,2 , Moroz Boris L. 1,2 , Bukhtiyarov Valerii I. 1,2
Организации
1 G.K. Boreskov Institute of Catalysis, Siberian Branch of the Russian Academy of Sciences, 5 Avenue Akademika Lavrentieva, 630090 Novosibirsk, Russia
2 Novosibirsk State University, 2, Pirogova Street, 630090 Novosibirsk, Russia
Библиографическая ссылка: Larichev Y.V. , Moroz B.L. , Bukhtiyarov V.I.
Electronic state of ruthenium deposited onto oxide supports: An XPS study taking into account the final state effects
Applied Surface Science. 2011. V.258. N4. P.1541-1550. DOI: 10.1016/j.apsusc.2011.09.127 Scopus OpenAlex
Идентификаторы БД:
Scopus: 2-s2.0-81555214056
OpenAlex: W1969346501
Цитирование в БД:
БД Цитирований
OpenAlex 56
Scopus 56
Альметрики: